EMS08R

Beschreibung

Automatisiertes EMI-Diagnosesystem für die Analyse auf PCB-Ebene

Der Y.I.C. EMScannerR ist ein hochauflösendes Nahfeld-Scansystem für gestrahlte Emissionen, das für EMV-Ingenieure und Hardware-Entwicklungsteams entwickelt wurde, die eine präzise EMI-Diagnose auf Leiterplattenebene benötigen. Er bietet eine automatisierte räumliche Emissionskartierung zur Unterstützung der Bewertung der Strahlungskonformität vor der akkreditierten Kammerprüfung. Das System wurde für fortschrittliche F&E-Umgebungen entwickelt und ermöglicht eine quantitative und wiederholbare Analyse von Strahlungsemissionen direkt an der Quelle.

Prinzip der Messung

Der EMScannerR verwendet ein hochdichtes Nahfeldsonden-Array in Kombination mit einer automatischen X-Y-Abtastung, um elektromagnetische Emissionen auf der Leiterplattenoberfläche zu erfassen. Die gemessenen Nahfelddaten werden mit dem Strahlungsverhalten in Übereinstimmung mit den Pre-Compliance-Methoden korreliert. Dieser Ansatz ermöglicht:

• Lokalisierung der wichtigsten Emissionsquellen
• Identifizierung von kritischen Leiterbahnen, Rückleitungen und Knotenpunkten mit hohem dV/dt
• Analyse der Kopplungsmechanismen
• EMI-Risikobewertung im Frühstadium

Technische Fähigkeiten

• Automatisiertes hochauflösendes Scannen im Nahbereich
• Breite Frequenzabdeckung, geeignet für EMI-Diagnose durch Strahlung
• Modi zur Erkennung von Spitzenwerten, Quasi-Spitzenwerten und Durchschnittswerten (je nach Konfiguration)
• Spektralanalyse über benutzerdefinierte Frequenzbänder
• Vergleichende Analyse zwischen PCB-Revisionen
• Wiederholbare Automatisierung der Testpositionierung und des Scannens

Das System unterstützt die EMI-Ursachenanalyse auf technischer Ebene anstelle einer einfachen Pass/Fail-Bewertung.

Erweiterte Datenvisualisierung

• 2D-Emissionswärmekarten
• Spektrale 3D-Intensitätskartierung
• Frequenzselektive räumliche Emissionsvisualisierung
• Delta-Vergleich zwischen Design-Iterationen
• Exportierbare Messdaten für Dokumentation und Berichterstattung

Dies ermöglicht eine genaue Identifizierung problematischer Layoutbereiche, Schwachstellen in der Abschirmung und Unterbrechungen des Rückstroms.

Anwendungsbereich

• Digitale PCB-Entwicklung in Hochgeschwindigkeit
• SMPS und Leistungselektronik EMI-Diagnose
• Entwicklung von Automobil-ECUs
• Industrielle Kontrollsysteme
• EMC-Risikominimierung vor der Zertifizierung
• Design-Validierung vor der CISPR / FCC-Kammerprüfung

Vorteile für EMC-Ingenieure

• Reduziert die Abhängigkeit von kostspieligen Vorabtests in der Kammer
• Ermöglicht iterative Designoptimierung im eigenen Haus
• Verbessert die Wahrscheinlichkeit der Einhaltung der Vorschriften im ersten Durchgang
• Verkürzt die EMC-Debugging-Zyklen
• Liefert objektive, wiederholbare räumliche EMI-Daten

Der Y.I.C. EMScannerR ist eine Präzisions-Diagnoseplattform für Ingenieure, die eine detaillierte räumliche Emissionsanalyse und eine systematische Identifizierung der EMI-Ursachen vor der formalen Konformitätsprüfung benötigen.  

• Frequenzbereich: 150 kHz “ 8 GHz
• Scannende Fläche: L 31,6 cm x B 21,8 cm (L 12,44 x B 8,58)
• Hohe Auflösung: 0.06mm
• 1Jahr EMViewer Abonnement inklusive Upgrades, Support & Hardware Garantie.

Warum sollten Sie sich für den EMS08R entscheiden?

Der EMS08R ist so konstruiert, dass er auch in den anspruchsvollsten Umgebungen unübertroffene Zuverlässigkeit und Genauigkeit bietet. Dieses Gerät wurde für Ingenieure entwickelt, die Wert auf Leistung legen, und gewährleistet stabile Ergebnisse für Forschung und Entwicklung, Qualitätssicherung und industrielle Wartung. Kontaktieren Sie uns noch heute für persönlichen technischen Support und Massenanfragen.