Das Y.I.C. Near Field Probe Kit<\/strong> ist eine professionelle EMI-Diagnosel\u00f6sung f\u00fcr die pr\u00e4zise Erkennung von Emissionen auf Leiterplattenebene und die Fehlersuche. Es erm\u00f6glicht es Ingenieuren, elektromagnetische St\u00f6rquellen direkt auf Leiterplatten zu identifizieren und zu lokalisieren, bevor die Einhaltung der Vorschriften formal gepr\u00fcft wird. <\/p>\n<\/p>\n Das Kit wurde f\u00fcr den Einsatz in F&E-Labors und EMV-Umgebungen entwickelt und unterst\u00fctzt die effiziente Fehlersuche bei gestrahlten Emissionen in digitalen Hochgeschwindigkeits-, HF- und Leistungselektroniksystemen.<\/p>\n<\/p>\n H-Feld-Sonden (Magnetfeld) f\u00fcr die Erkennung von Stromschleifen und Schaltger\u00e4uschen<\/p>\n<\/li>\n E-Feld-Sonden (elektrisches Feld) f\u00fcr spannungsgesteuerte Emissionsquellen<\/p>\n<\/li>\n Mehrere Sondengeometrien f\u00fcr unterschiedliche r\u00e4umliche Aufl\u00f6sungen<\/p>\n<\/li>\n Optimiert f\u00fcr das Scannen von Leiterplatten aus n\u00e4chster N\u00e4he<\/p>\n<\/li>\n<\/ul>\n Die Kombination von E-Feld- und H-Feld-Sonden erm\u00f6glicht eine umfassende EMI-Quellenanalyse.<\/p>\n<\/p>\n Lokalisierung von Emissionen auf PCB-Ebene<\/p>\n<\/li>\n Erkennung des Rauschens von Schaltnetzteilen<\/p>\n<\/li>\n Untersuchung von Hochgeschwindigkeits-Takt- und Datenleitungen<\/p>\n<\/li>\n Identifizierung von RF-Emissions-Hotspots<\/p>\n<\/li>\n Validierung von Abschirmung und Erdung<\/p>\n<\/li>\n<\/ul>\n Das Probe-Kit unterst\u00fctzt die systematische EMI-Ursachenanalyse w\u00e4hrend der Entwicklung.<\/p>\n<\/p>\n Kompatibel mit Spektrumanalysatoren<\/p>\n<\/li>\n Geeignet f\u00fcr EMI-Empf\u00e4nger<\/p>\n<\/li>\n Verwendbar mit Oszilloskopen f\u00fcr die Analyse im Zeitbereich<\/p>\n<\/li>\n Ideale Erg\u00e4nzung zu Y.I.C. EMScanner Systemen<\/p>\n<\/li>\n<\/ul>\n Bietet sowohl eine qualitative als auch eine quantitative EMI-Diagnose, abh\u00e4ngig vom angeschlossenen Messger\u00e4t.<\/p>\n<\/p>\n Erkennung elektromagnetischer Nahfeldemissionen<\/p>\n<\/li>\n Analyse elektrischer und magnetischer Felder<\/p>\n<\/li>\n PCB-Scannen mit hoher r\u00e4umlicher Aufl\u00f6sung<\/p>\n<\/li>\n Kompakte und pr\u00e4zise Sondenkonstruktion<\/p>\n<\/li>\n Professionelles Werkzeug zur EMC-Fehlerbehebung<\/p>\n<\/li>\n<\/ul>\n EMC \/ EMI-Ingenieure Das Y.I.C. Near Field Probe Kit<\/strong> liefert eine zuverl\u00e4ssige und pr\u00e4zise EMI-Quellenlokalisierung auf PCB-Ebene “ und hilft Ingenieuren, die Fehlersuche zu beschleunigen, das Risiko der Konformit\u00e4t zu reduzieren und die EMV-Leistung vor Kammerpr\u00fcfungen zu verbessern.<\/p>\n <\/p>\n<\/p>\n Set mit 5 elektrischen und magnetischen Sonden, 5-50mm USB Kamera und mechanischem Arm. <\/b><\/span><\/p>\n \n <\/p>\n <\/p>\n Das Nahfeldsonden-Kit ist f\u00fcr un\u00fcbertroffene Zuverl\u00e4ssigkeit und Genauigkeit in den anspruchsvollsten Umgebungen ausgelegt. Dieses Ger\u00e4t wurde f\u00fcr Ingenieure entwickelt, die Wert auf Leistung legen, und gew\u00e4hrleistet stabile Ergebnisse f\u00fcr F&E, Qualit\u00e4tssicherung und industrielle Wartung. Kontaktieren Sie uns noch heute f\u00fcr pers\u00f6nlichen technischen Support und Massenanfragen. <\/p>\n
\nProdukt-Highlights<\/h2>\n<\/p>\n
Vollst\u00e4ndige E-Feld- und H-Feld-Sondenauswahl<\/h3>\n<\/p>\n
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\nHochfrequenz-EMI-Diagnose<\/h3>\n<\/p>\n
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\nFlexible Laborintegration<\/h2>\n<\/p>\n
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\nSchl\u00fcsselkompetenzen im \u00dcberblick<\/h2>\n<\/p>\n
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\nIdeal f\u00fcr<\/h3>\n<\/p>\n
PCB-Design-Ingenieure
Leistungselektronik-Entwickler
RF-Design-Teams
Kfz-Elektronik-Ingenieure
Forschungs- und Entwicklungslabors<\/p>\n<\/p>\n
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\nWarum sollten Sie sich f\u00fcr das Near Field Probe Kit entscheiden?<\/h3>\n