Système avancé de diagnostic des interférences électromagnétiques des circuits imprimés
Balayage électromagnétique en champ proche à haute résolution pour le développement professionnel de la CEM
L’EMScanner+ de Y.I.C. est un système de balayage automatisé avancé pour la pré-conformité EMI, conçu pour un diagnostic précis des émissions rayonnées au niveau des circuits imprimés. S’appuyant sur la plate-forme EMScanner, l’EMScanner+ offre une meilleure résolution de balayage, une capacité de mesure élargie et des outils d’analyse améliorés pour les environnements de développement CEM exigeants.
Il permet aux équipes d’ingénieurs de détecter, de localiser et d’analyser les interférences électromagnétiques dès le début du processus de conception » améliorant de manière significative le succès du premier passage dans les laboratoires d’essais CEM certifiés.
Points forts du produit
Scanner automatisé en champ proche à haute résolution
Réseau dense de sondes en champ proche
Numérisation automatisée X-Y des circuits imprimés
Résolution spatiale élevée des émissions
Localisation précise des points chauds EMI
Identifiez rapidement les sources d’émission telles que les traces à grande vitesse, les discontinuités du chemin de retour, les nuds de commutation et les faiblesses du blindage.
Capacité améliorée de pré-conformité
Analyse des émissions rayonnées au niveau des PCB
Balayage sélectif en fréquence
Validation de la conception comparative
Amélioration de la corrélation avec les essais en chambre
L’EMScanner+ prend en charge le débogage EMI structuré et l’optimisation itérative de la disposition avant la certification formelle.
Logiciels avancés et visualisation
Cartes thermiques des émissions en 2D
Cartographie de l’intensité spectrale en 3D
Analyse dans le domaine des fréquences
Comparaison des révisions de conception
Rapports de mesure automatisés
Données d’ingénierie exportables
L’environnement d’analyse intuitif permet aux ingénieurs de passer efficacement de la détection à l’identification des causes profondes.
Avantages techniques pour les ingénieurs CEM
Processus de numérisation répétable et automatisé
Réduction de la dépendance à l’égard des chambres de pré-test externes
Cycles de dépannage IEM plus rapides
Données quantitatives sur les émissions spatiales
Amélioration de l’intégration du flux de travail de la conception pour les CEM
Conçu pour les laboratoires CEM professionnels et les équipes de développement de matériel travaillant sur des systèmes numériques et d’électronique de puissance à grande vitesse.
Les capacités clés en un coup d’il
Scanner automatisé d’émission en champ proche de PCB
Cartographie des émissions à haute résolution
Validation de la référence de pré-conformité
Analyse spectrale dans le domaine des fréquences
Outils de débogage et de documentation EMC
Idéal pour
Ingénieurs CEM / EMI Développement de circuits imprimés à grande vitesse Électronique automobile Systèmes de contrôle industriels Conception d’électronique de puissance Laboratoires de R&D
Le Y.I.C EMScanner+ fournit une analyse améliorée des émissions spatiales et des diagnostics EMI de qualité professionnelle, aidant les équipes d’ingénieurs à réduire les risques de conformité et à accélérer le temps de mise sur le marché grâce à une optimisation CEM à un stade précoce.
Scanner CEM/EMI à grande vitesse avec analyseur de spectre interne
Gamme de fréquences : 150 kHz à 6 GHz
Zone de numérisation : L 31,6 cm x L 21,8 cm (L 12,44 x L 8,58)
Résolution physique : 7,5 mm
Abonnement EMViewer d’un an comprenant les mises à jour, l’assistance et la garantie du matériel
Pourquoi choisir l’EMS08+ ?
L’EMS08+ est conçu pour offrir une fiabilité et une précision inégalées dans les environnements les plus exigeants. Conçu pour les ingénieurs qui privilégient la performance, cet appareil garantit des résultats stables pour la R&D, l’assurance qualité et la maintenance industrielle. Contactez-nous dès aujourd’hui pour une assistance technique personnalisée et des demandes de renseignements en vrac.
EMS08+
CHF 44'325.00
HT
Description
Système avancé de diagnostic des interférences électromagnétiques des circuits imprimés
Balayage électromagnétique en champ proche à haute résolution pour le développement professionnel de la CEM
L’EMScanner+ de Y.I.C. est un système de balayage automatisé avancé pour la pré-conformité EMI, conçu pour un diagnostic précis des émissions rayonnées au niveau des circuits imprimés. S’appuyant sur la plate-forme EMScanner, l’EMScanner+ offre une meilleure résolution de balayage, une capacité de mesure élargie et des outils d’analyse améliorés pour les environnements de développement CEM exigeants.
Il permet aux équipes d’ingénieurs de détecter, de localiser et d’analyser les interférences électromagnétiques dès le début du processus de conception » améliorant de manière significative le succès du premier passage dans les laboratoires d’essais CEM certifiés.
Points forts du produit
Scanner automatisé en champ proche à haute résolution
Réseau dense de sondes en champ proche
Numérisation automatisée X-Y des circuits imprimés
Résolution spatiale élevée des émissions
Localisation précise des points chauds EMI
Identifiez rapidement les sources d’émission telles que les traces à grande vitesse, les discontinuités du chemin de retour, les nuds de commutation et les faiblesses du blindage.
Capacité améliorée de pré-conformité
Analyse des émissions rayonnées au niveau des PCB
Balayage sélectif en fréquence
Validation de la conception comparative
Amélioration de la corrélation avec les essais en chambre
L’EMScanner+ prend en charge le débogage EMI structuré et l’optimisation itérative de la disposition avant la certification formelle.
Logiciels avancés et visualisation
Cartes thermiques des émissions en 2D
Cartographie de l’intensité spectrale en 3D
Analyse dans le domaine des fréquences
Comparaison des révisions de conception
Rapports de mesure automatisés
Données d’ingénierie exportables
L’environnement d’analyse intuitif permet aux ingénieurs de passer efficacement de la détection à l’identification des causes profondes.
Avantages techniques pour les ingénieurs CEM
Processus de numérisation répétable et automatisé
Réduction de la dépendance à l’égard des chambres de pré-test externes
Cycles de dépannage IEM plus rapides
Données quantitatives sur les émissions spatiales
Amélioration de l’intégration du flux de travail de la conception pour les CEM
Conçu pour les laboratoires CEM professionnels et les équipes de développement de matériel travaillant sur des systèmes numériques et d’électronique de puissance à grande vitesse.
Les capacités clés en un coup d’il
Scanner automatisé d’émission en champ proche de PCB
Cartographie des émissions à haute résolution
Validation de la référence de pré-conformité
Analyse spectrale dans le domaine des fréquences
Outils de débogage et de documentation EMC
Idéal pour
Ingénieurs CEM / EMI
Développement de circuits imprimés à grande vitesse
Électronique automobile
Systèmes de contrôle industriels
Conception d’électronique de puissance
Laboratoires de R&D
Le Y.I.C EMScanner+ fournit une analyse améliorée des émissions spatiales et des diagnostics EMI de qualité professionnelle, aidant les équipes d’ingénieurs à réduire les risques de conformité et à accélérer le temps de mise sur le marché grâce à une optimisation CEM à un stade précoce.
Scanner CEM/EMI à grande vitesse avec analyseur de spectre interne
Pourquoi choisir l’EMS08+ ?
L’EMS08+ est conçu pour offrir une fiabilité et une précision inégalées dans les environnements les plus exigeants. Conçu pour les ingénieurs qui privilégient la performance, cet appareil garantit des résultats stables pour la R&D, l’assurance qualité et la maintenance industrielle. Contactez-nous dès aujourd’hui pour une assistance technique personnalisée et des demandes de renseignements en vrac.
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