Description

Kit professionnel de dépannage EMI

Détection de précision en champ proche pour les diagnostics CEM

Le kit de sondes en champ proche Y.I.C. est une solution professionnelle de diagnostic EMI conçue pour la détection précise des émissions au niveau des circuits imprimés et le dépannage. Il permet aux ingénieurs d’identifier et de localiser les sources d’interférences électromagnétiques directement sur les cartes de circuits imprimés avant les tests de conformité officiels.

Conçu pour être utilisé dans les laboratoires de R&D et les environnements CEM, ce kit permet un débogage efficace des émissions rayonnées dans les systèmes numériques, RF et électroniques de puissance à grande vitesse.

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Points forts du produit

Sélection complète de sondes de champ E et de champ H

• Sondes de champ H (champ magnétique) pour la détection des boucles de courant et des bruits de commutation

• Sondes de champ électrique pour les sources d’émission pilotées par tension

• Géométries de sonde multiples pour différentes résolutions spatiales

• Optimisé pour le balayage de proximité des circuits imprimés

La combinaison des sondes de champ E et de champ H permet une analyse complète des sources d’interférences électromagnétiques.

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Diagnostic EMI haute fréquence

• Localisation des émissions au niveau des PCB

• Détection du bruit de l’alimentation à découpage

• Examen des lignes d’horloge et de données à grande vitesse

• Identification des points chauds d’émission RF

• Validation du blindage et de la mise à la terre

Le kit de sondes permet une analyse systématique des causes profondes des interférences électromagnétiques au cours du développement.

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Intégration flexible des laboratoires

• Compatible avec les analyseurs de spectre

• Convient aux récepteurs EMI

• Utilisable avec des oscilloscopes pour l’analyse du domaine temporel

• Complément idéal aux systèmes EMScanner de Y.I.C.

Fournit des diagnostics EMI qualitatifs et quantitatifs en fonction de l’instrument de mesure connecté.

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Les capacités clés en un coup d’il

• Détection des émissions électromagnétiques en champ proche

• Analyse des champs électriques et magnétiques

• Scanner de circuits imprimés à haute résolution spatiale

• Construction compacte et précise de la sonde

• Outil de dépannage EMC de qualité professionnelle

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Idéal pour

Ingénieurs CEM / EMI
Ingénieurs concepteurs de circuits imprimés
Développeurs en électronique de puissance
Équipes de conception RF
Ingénieurs en électronique automobile
Laboratoires de recherche et de développement

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Le Y.I.C. Near Field Probe Kit permet une localisation fiable et précise des sources d’EMI au niveau du circuit imprimé " aidant les ingénieurs à accélérer le débogage, à réduire le risque de conformité et à améliorer les performances EMC avant les tests en chambre.

Ensemble de 5 sondes électriques et magnétiques, 5-50mm Caméra USB et bras mécanique.

• HXY 10A02 : 10 MHz " 350 MHz
• HXY 20A02 : 100 MHz " 1,4 GHz
• HZ 40A02 : 1 GHz " 14 GHz
• HXY 60A01 : 1 GHz " 13 GHz
• E 00A02 : 1,6 GHz " 18 GHz
• Appareil photo USB à zoom optique 5MP x10
• Abonnement d’un an à EMViewer comprenant les mises à jour, l’assistance et la garantie du matériel.

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Pourquoi choisir le kit de sondes de champ proche ?

Le kit de sondes de champ proche est conçu pour offrir une fiabilité et une précision inégalées dans les environnements les plus exigeants. Conçu pour les ingénieurs qui privilégient la performance, cet appareil garantit des résultats stables pour la R&D, l’assurance qualité et la maintenance industrielle. Contactez-nous dès aujourd’hui pour une assistance technique personnalisée et des demandes de renseignements en vrac.