{"id":5004,"date":"2026-05-08T15:34:31","date_gmt":"2026-05-08T15:34:31","guid":{"rendered":"http:\/\/sokadohi.cyon.site\/produkt\/ems08r\/"},"modified":"2026-07-13T17:36:34","modified_gmt":"2026-07-13T17:36:34","slug":"ems08r","status":"publish","type":"product","link":"https:\/\/ccontrols.shop\/fr\/product\/ems08r\/","title":{"rendered":"EMS08R"},"content":{"rendered":"<h3><\/h3>\n<h2>Syst\u00e8me automatis\u00e9 de diagnostic des interf\u00e9rences \u00e9lectromagn\u00e9tiques rayonn\u00e9es pour l&rsquo;analyse au niveau des circuits imprim\u00e9s<\/h2>\n<p> L&rsquo;<strong>EMScannerR de Y.I.C.<\/strong> est un syst\u00e8me de balayage des \u00e9missions rayonn\u00e9es en champ proche \u00e0 haute r\u00e9solution con\u00e7u pour les ing\u00e9nieurs CEM et les \u00e9quipes de d\u00e9veloppement de mat\u00e9riel qui ont besoin de diagnostics EMI pr\u00e9cis au niveau des circuits imprim\u00e9s. Il fournit une cartographie automatis\u00e9e des \u00e9missions spatiales pour soutenir l&rsquo;\u00e9valuation de la pr\u00e9-conformit\u00e9 des rayonnements avant les essais en chambre accr\u00e9dit\u00e9e. Con\u00e7u pour les environnements de R&#038;D avanc\u00e9s, le syst\u00e8me permet une analyse quantitative et reproductible des \u00e9missions rayonn\u00e9es directement \u00e0 la source. <\/p>\n<hr>\n<h2>Principe de mesure<\/h2>\n<p> L&rsquo;EMScannerR utilise un r\u00e9seau de sondes en champ proche \u00e0 haute densit\u00e9 combin\u00e9 \u00e0 un balayage X-Y automatis\u00e9 pour capturer les \u00e9missions \u00e9lectromagn\u00e9tiques \u00e0 travers la surface du circuit imprim\u00e9. Les donn\u00e9es de champ proche mesur\u00e9es sont mises en corr\u00e9lation avec le comportement des \u00e9missions rayonn\u00e9es conform\u00e9ment aux m\u00e9thodologies de pr\u00e9-conformit\u00e9. Cette approche permet : <\/p>\n<ul>\n<li>Localisation des principales sources d&rsquo;\u00e9mission<\/li>\n<li>Identification des traces critiques, des chemins de retour et des nuds \u00e0 dV\/dt \u00e9lev\u00e9<\/li>\n<li>Analyse des m\u00e9canismes de couplage<\/li>\n<li>\u00c9valuation des risques IEM \u00e0 un stade pr\u00e9coce<\/li>\n<\/ul>\n<hr>\n<h2>Capacit\u00e9s techniques<\/h2>\n<ul>\n<li>Balayage automatis\u00e9 \u00e0 haute r\u00e9solution en champ proche<\/li>\n<li>Large couverture de fr\u00e9quence adapt\u00e9e au diagnostic des interf\u00e9rences \u00e9lectromagn\u00e9tiques (IEM) par rayonnement<\/li>\n<li>Modes de d\u00e9tection des cr\u00eates, des quasi-cr\u00eates et de la moyenne (selon la configuration)<\/li>\n<li>Analyse spectrale sur des bandes de fr\u00e9quences d\u00e9finies par l&rsquo;utilisateur<\/li>\n<li>Analyse comparative des r\u00e9visions des PCB<\/li>\n<li>Automatisation du positionnement et du balayage des essais r\u00e9p\u00e9tables<\/li>\n<\/ul>\n<p> Le syst\u00e8me permet d&rsquo;analyser les causes profondes des interf\u00e9rences \u00e9lectromagn\u00e9tiques au niveau de l&rsquo;ing\u00e9nierie plut\u00f4t que de se contenter d&rsquo;une simple \u00e9valuation succ\u00e8s\/\u00e9chec. <\/p>\n<hr>\n<h2>Visualisation avanc\u00e9e des donn\u00e9es<\/h2>\n<ul>\n<li>Cartes thermiques des \u00e9missions en 2D<\/li>\n<li>Cartographie de l&rsquo;intensit\u00e9 spectrale en 3D<\/li>\n<li>Visualisation des \u00e9missions spatiales s\u00e9lectives en fonction de la fr\u00e9quence<\/li>\n<li>Comparaison des deltas entre les it\u00e9rations de conception<\/li>\n<li>Donn\u00e9es de mesure exportables pour la documentation et les rapports<\/li>\n<\/ul>\n<p> Cela permet d&rsquo;identifier avec pr\u00e9cision les zones d&rsquo;implantation probl\u00e9matiques, les faiblesses du blindage et les discontinuit\u00e9s du courant de retour. <\/p>\n<hr>\n<h2>Champ d&rsquo;application<\/h2>\n<ul>\n<li>D\u00e9veloppement de circuits imprim\u00e9s num\u00e9riques \u00e0 grande vitesse<\/li>\n<li>SMPS et diagnostics EMI de l&rsquo;\u00e9lectronique de puissance<\/li>\n<li>D\u00e9veloppement de calculateurs automobiles<\/li>\n<li>Syst\u00e8mes de contr\u00f4le industriel<\/li>\n<li>Att\u00e9nuation des risques CEM avant la certification<\/li>\n<li>Validation de la conception avant les essais en chambre CISPR \/ FCC<\/li>\n<\/ul>\n<hr>\n<h2>Avantages pour les ing\u00e9nieurs CEM<\/h2>\n<ul>\n<li>R\u00e9duction de la d\u00e9pendance \u00e0 l&rsquo;\u00e9gard des pr\u00e9-tests co\u00fbteux en chambre<\/li>\n<li>Permet l&rsquo;optimisation it\u00e9rative de la conception en interne<\/li>\n<li>Am\u00e9liore la probabilit\u00e9 de conformit\u00e9 au premier passage<\/li>\n<li>Raccourcit les cycles de d\u00e9bogage CEM<\/li>\n<li>Fournit des donn\u00e9es spatiales objectives et reproductibles sur l&rsquo;IEM<\/li>\n<\/ul>\n<hr>\n<p> Le <strong>Y.I.C. EMScannerR<\/strong> est une plate-forme de diagnostic de pr\u00e9cision pour les ing\u00e9nieurs qui ont besoin d&rsquo;une analyse d\u00e9taill\u00e9e des \u00e9missions spatiales et d&rsquo;une identification syst\u00e9matique des causes profondes des interf\u00e9rences \u00e9lectromagn\u00e9tiques avant les tests de conformit\u00e9 formels. &nbsp; <\/p>\n<ul>\n<li><span lang=\"en-gb\" style=\"font-size: 12pt; letter-spacing: 0px; line-height: 107%; font-family: Arial, sans-serif; color: #000000;\">Gamme de fr\u00e9quences : 150 kHz \u00e0 8 GHz<\/span><\/li>\n<li><span lang=\"en-gb\" style=\"font-size: 12pt; line-height: 107%; font-family: Arial, sans-serif; color: #000000;\">Zone de num\u00e9risation : L 31,6 cm x L 21,8 cm (L 12,44 x L 8,58) <\/span><\/li>\n<li><span lang=\"en-gb\" style=\"font-size: 12pt; line-height: 107%; font-family: Arial, sans-serif; color: #000000;\">Haute r\u00e9solution : 0,06 mm <\/span><\/li>\n<li><span lang=\"en-gb\" style=\"font-size: 12pt; line-height: 107%; font-family: Arial, sans-serif; color: #000000;\">Abonnement d&rsquo;un an \u00e0 EMViewer comprenant les mises \u00e0 jour, l&rsquo;assistance et la garantie du mat\u00e9riel .<\/span><\/li>\n<\/ul>\n<p> <span style=\"color: #000000;\"> <\/span> &nbsp; <\/p>\n<hr>\n<h3>Pourquoi choisir l&rsquo;EMS08R ?<\/h3>\n<p> L&rsquo;EMS08R est con\u00e7u pour offrir une fiabilit\u00e9 et une pr\u00e9cision in\u00e9gal\u00e9es dans les environnements les plus exigeants. Con\u00e7u pour les ing\u00e9nieurs qui privil\u00e9gient la performance, cet appareil garantit des r\u00e9sultats stables pour la R&#038;D, l&rsquo;assurance qualit\u00e9 et la maintenance industrielle. Contactez-nous d\u00e8s aujourd&rsquo;hui pour une assistance technique personnalis\u00e9e et des demandes de renseignements en vrac. <a href=\"https:\/\/ccontrols.shop\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/EMScanner-Datasheet.pdf\">Fiche technique de l&rsquo;EMScanner<\/a><\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"","protected":false},"featured_media":8770,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"content-type":""},"product_brand":[3606],"product_cat":[6210],"product_tag":[],"class_list":["post-5004","product","type-product","status-publish","has-post-thumbnail","product_brand-y-i-c-tecchnologies","product_cat-equipement-dessai-cem-emi","has-post-title","has-post-date","has-post-category","has-post-tag","has-post-comment","has-post-author","","first","instock","taxable","shipping-taxable","purchasable","product-type-simple"],"builder_content":"","_links":{"self":[{"href":"https:\/\/ccontrols.shop\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/product\/5004","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/ccontrols.shop\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/product"}],"about":[{"href":"https:\/\/ccontrols.shop\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/types\/product"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/ccontrols.shop\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=5004"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/ccontrols.shop\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media\/8770"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/ccontrols.shop\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=5004"}],"wp:term":[{"taxonomy":"product_brand","embeddable":true,"href":"https:\/\/ccontrols.shop\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/product_brand?post=5004"},{"taxonomy":"product_cat","embeddable":true,"href":"https:\/\/ccontrols.shop\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/product_cat?post=5004"},{"taxonomy":"product_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/ccontrols.shop\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/product_tag?post=5004"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}