L’EMScanner+ de Y.I.C.<\/strong> est un syst\u00e8me de balayage automatis\u00e9 avanc\u00e9 pour la pr\u00e9-conformit\u00e9 EMI, con\u00e7u pour un diagnostic pr\u00e9cis des \u00e9missions rayonn\u00e9es au niveau des circuits imprim\u00e9s. S’appuyant sur la plate-forme EMScanner, l’EMScanner+ offre une meilleure r\u00e9solution de balayage, une capacit\u00e9 de mesure \u00e9largie et des outils d’analyse am\u00e9lior\u00e9s pour les environnements de d\u00e9veloppement CEM exigeants. <\/p>\n<\/p>\n Il permet aux \u00e9quipes d’ing\u00e9nieurs de d\u00e9tecter, de localiser et d’analyser les interf\u00e9rences \u00e9lectromagn\u00e9tiques d\u00e8s le d\u00e9but du processus de conception \u00a0\u00bb am\u00e9liorant de mani\u00e8re significative le succ\u00e8s du premier passage dans les laboratoires d’essais CEM certifi\u00e9s.<\/p>\n<\/p>\n R\u00e9seau dense de sondes en champ proche<\/p>\n<\/li>\n Num\u00e9risation automatis\u00e9e X-Y des circuits imprim\u00e9s<\/p>\n<\/li>\n R\u00e9solution spatiale \u00e9lev\u00e9e des \u00e9missions<\/p>\n<\/li>\n Localisation pr\u00e9cise des points chauds EMI<\/p>\n<\/li>\n<\/ul>\n Identifiez rapidement les sources d’\u00e9mission telles que les traces \u00e0 grande vitesse, les discontinuit\u00e9s du chemin de retour, les nuds de commutation et les faiblesses du blindage.<\/p>\n<\/p>\n Analyse des \u00e9missions rayonn\u00e9es au niveau des PCB<\/p>\n<\/li>\n Balayage s\u00e9lectif en fr\u00e9quence<\/p>\n<\/li>\n Validation de la conception comparative<\/p>\n<\/li>\n Am\u00e9lioration de la corr\u00e9lation avec les essais en chambre<\/p>\n<\/li>\n<\/ul>\n L’EMScanner+ prend en charge le d\u00e9bogage EMI structur\u00e9 et l’optimisation it\u00e9rative de la disposition avant la certification formelle.<\/p>\n<\/p>\n Cartes thermiques des \u00e9missions en 2D<\/p>\n<\/li>\n Cartographie de l’intensit\u00e9 spectrale en 3D<\/p>\n<\/li>\n Analyse dans le domaine des fr\u00e9quences<\/p>\n<\/li>\n Comparaison des r\u00e9visions de conception<\/p>\n<\/li>\n Rapports de mesure automatis\u00e9s<\/p>\n<\/li>\n Donn\u00e9es d’ing\u00e9nierie exportables<\/p>\n<\/li>\n<\/ul>\n L’environnement d’analyse intuitif permet aux ing\u00e9nieurs de passer efficacement de la d\u00e9tection \u00e0 l’identification des causes profondes.<\/p>\n<\/p>\n Processus de num\u00e9risation r\u00e9p\u00e9table et automatis\u00e9<\/p>\n<\/li>\n R\u00e9duction de la d\u00e9pendance \u00e0 l’\u00e9gard des chambres de pr\u00e9-test externes<\/p>\n<\/li>\n Cycles de d\u00e9pannage IEM plus rapides<\/p>\n<\/li>\n Donn\u00e9es quantitatives sur les \u00e9missions spatiales<\/p>\n<\/li>\n Am\u00e9lioration de l’int\u00e9gration du flux de travail de la conception pour les CEM<\/p>\n<\/li>\n<\/ul>\n Con\u00e7u pour les laboratoires CEM professionnels et les \u00e9quipes de d\u00e9veloppement de mat\u00e9riel travaillant sur des syst\u00e8mes num\u00e9riques et d’\u00e9lectronique de puissance \u00e0 grande vitesse.<\/p>\n<\/p>\n Scanner automatis\u00e9 d’\u00e9mission en champ proche de PCB<\/p>\n<\/li>\n Cartographie des \u00e9missions \u00e0 haute r\u00e9solution<\/p>\n<\/li>\n Validation de la r\u00e9f\u00e9rence de pr\u00e9-conformit\u00e9<\/p>\n<\/li>\n Analyse spectrale dans le domaine des fr\u00e9quences<\/p>\n<\/li>\n Outils de d\u00e9bogage et de documentation EMC<\/p>\n<\/li>\n<\/ul>\n Ing\u00e9nieurs CEM \/ EMI Le Y.I.C EMScanner+<\/strong> fournit une analyse am\u00e9lior\u00e9e des \u00e9missions spatiales et des diagnostics EMI de qualit\u00e9 professionnelle, aidant les \u00e9quipes d’ing\u00e9nieurs \u00e0 r\u00e9duire les risques de conformit\u00e9 et \u00e0 acc\u00e9l\u00e9rer le temps de mise sur le march\u00e9 gr\u00e2ce \u00e0 une optimisation CEM \u00e0 un stade pr\u00e9coce.<\/p>\n <\/p>\n<\/p>\n Scanner CEM\/EMI \u00e0 grande vitesse avec analyseur de spectre interne <\/span><\/p>\n \n <\/p>\n L’EMS08+ est con\u00e7u pour offrir une fiabilit\u00e9 et une pr\u00e9cision in\u00e9gal\u00e9es dans les environnements les plus exigeants. Con\u00e7u pour les ing\u00e9nieurs qui privil\u00e9gient la performance, cet appareil garantit des r\u00e9sultats stables pour la R&D, l’assurance qualit\u00e9 et la maintenance industrielle. Contactez-nous d\u00e8s aujourd’hui pour une assistance technique personnalis\u00e9e et des demandes de renseignements en vrac. <\/p>\n
\nPoints forts du produit<\/h2>\n<\/p>\n
Scanner automatis\u00e9 en champ proche \u00e0 haute r\u00e9solution<\/h3>\n<\/p>\n
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\nCapacit\u00e9 am\u00e9lior\u00e9e de pr\u00e9-conformit\u00e9<\/h3>\n<\/p>\n
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\nLogiciels avanc\u00e9s et visualisation<\/h2>\n<\/p>\n
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\nAvantages techniques pour les ing\u00e9nieurs CEM<\/h2>\n<\/p>\n
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\nLes capacit\u00e9s cl\u00e9s en un coup d’il<\/h2>\n<\/p>\n
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\nId\u00e9al pour<\/h3>\n<\/p>\n
D\u00e9veloppement de circuits imprim\u00e9s \u00e0 grande vitesse
\u00c9lectronique automobile
Syst\u00e8mes de contr\u00f4le industriels
Conception d’\u00e9lectronique de puissance
Laboratoires de R&D<\/p>\n<\/p>\n
\n\n
\nPourquoi choisir l’EMS08+ ?<\/h3>\n