Beschreibung

Professionelles EMI-Fehlerbehebungsset

Präzise Nahfelddetektion für die EMC-Diagnostik

Das Y.I.C. Near Field Probe Kit ist eine professionelle EMI-Diagnoselösung für die präzise Erkennung von Emissionen auf Leiterplattenebene und die Fehlersuche. Es ermöglicht es Ingenieuren, elektromagnetische Störquellen direkt auf Leiterplatten zu identifizieren und zu lokalisieren, bevor die Einhaltung der Vorschriften formal geprüft wird.

Das Kit wurde für den Einsatz in F&E-Labors und EMV-Umgebungen entwickelt und unterstützt die effiziente Fehlersuche bei gestrahlten Emissionen in digitalen Hochgeschwindigkeits-, HF- und Leistungselektroniksystemen.

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Produkt-Highlights

Vollständige E-Feld- und H-Feld-Sondenauswahl

• H-Feld-Sonden (Magnetfeld) für die Erkennung von Stromschleifen und Schaltgeräuschen

• E-Feld-Sonden (elektrisches Feld) für spannungsgesteuerte Emissionsquellen

• Mehrere Sondengeometrien für unterschiedliche räumliche Auflösungen

• Optimiert für das Scannen von Leiterplatten aus nächster Nähe

Die Kombination von E-Feld- und H-Feld-Sonden ermöglicht eine umfassende EMI-Quellenanalyse.

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Hochfrequenz-EMI-Diagnose

• Lokalisierung von Emissionen auf PCB-Ebene

• Erkennung des Rauschens von Schaltnetzteilen

• Untersuchung von Hochgeschwindigkeits-Takt- und Datenleitungen

• Identifizierung von RF-Emissions-Hotspots

• Validierung von Abschirmung und Erdung

Das Probe-Kit unterstützt die systematische EMI-Ursachenanalyse während der Entwicklung.

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Flexible Laborintegration

• Kompatibel mit Spektrumanalysatoren

• Geeignet für EMI-Empfänger

• Verwendbar mit Oszilloskopen für die Analyse im Zeitbereich

• Ideale Ergänzung zu Y.I.C. EMScanner Systemen

Bietet sowohl eine qualitative als auch eine quantitative EMI-Diagnose, abhängig vom angeschlossenen Messgerät.

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Schlüsselkompetenzen im Überblick

• Erkennung elektromagnetischer Nahfeldemissionen

• Analyse elektrischer und magnetischer Felder

• PCB-Scannen mit hoher räumlicher Auflösung

• Kompakte und präzise Sondenkonstruktion

• Professionelles Werkzeug zur EMC-Fehlerbehebung

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Ideal für

EMC / EMI-Ingenieure
PCB-Design-Ingenieure
Leistungselektronik-Entwickler
RF-Design-Teams
Kfz-Elektronik-Ingenieure
Forschungs- und Entwicklungslabors

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Das Y.I.C. Near Field Probe Kit liefert eine zuverlässige und präzise EMI-Quellenlokalisierung auf PCB-Ebene “ und hilft Ingenieuren, die Fehlersuche zu beschleunigen, das Risiko der Konformität zu reduzieren und die EMV-Leistung vor Kammerprüfungen zu verbessern.

Set mit 5 elektrischen und magnetischen Sonden, 5-50mm USB Kamera und mechanischem Arm.

• HXY 10A02: 10 MHz “ 350 MHz
• HXY 20A02: 100 MHz “ 1,4 GHz
• HZ 40A02: 1 GHz “ 14 GHz
• HXY 60A01: 1 GHz “ 13 GHz
• E 00A02: 1,6 GHz “ 18 GHz
• USB 5MP x10 Optischer Zoom Kamera
• 1Jahr EMViewer-Abonnement einschließlich Upgrades, Support und Hardware-Garantie.

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Warum sollten Sie sich für das Near Field Probe Kit entscheiden?

Das Nahfeldsonden-Kit ist für unübertroffene Zuverlässigkeit und Genauigkeit in den anspruchsvollsten Umgebungen ausgelegt. Dieses Gerät wurde für Ingenieure entwickelt, die Wert auf Leistung legen, und gewährleistet stabile Ergebnisse für F&E, Qualitätssicherung und industrielle Wartung. Kontaktieren Sie uns noch heute für persönlichen technischen Support und Massenanfragen.