EMS08R

Description

Système automatisé de diagnostic des interférences électromagnétiques rayonnées pour l’analyse au niveau des circuits imprimés

L’EMScannerR de Y.I.C. est un système de balayage des émissions rayonnées en champ proche à haute résolution conçu pour les ingénieurs CEM et les équipes de développement de matériel qui ont besoin de diagnostics EMI précis au niveau des circuits imprimés. Il fournit une cartographie automatisée des émissions spatiales pour soutenir l’évaluation de la pré-conformité des rayonnements avant les essais en chambre accréditée. Conçu pour les environnements de R&D avancés, le système permet une analyse quantitative et reproductible des émissions rayonnées directement à la source.

Principe de mesure

L’EMScannerR utilise un réseau de sondes en champ proche à haute densité combiné à un balayage X-Y automatisé pour capturer les émissions électromagnétiques à travers la surface du circuit imprimé. Les données de champ proche mesurées sont mises en corrélation avec le comportement des émissions rayonnées conformément aux méthodologies de pré-conformité. Cette approche permet :

• Localisation des principales sources d’émission
• Identification des traces critiques, des chemins de retour et des nuds à dV/dt élevé
• Analyse des mécanismes de couplage
• Évaluation des risques IEM à un stade précoce

Capacités techniques

• Balayage automatisé à haute résolution en champ proche
• Large couverture de fréquence adaptée au diagnostic des interférences électromagnétiques (IEM) par rayonnement
• Modes de détection des crêtes, des quasi-crêtes et de la moyenne (selon la configuration)
• Analyse spectrale sur des bandes de fréquences définies par l’utilisateur
• Analyse comparative des révisions des PCB
• Automatisation du positionnement et du balayage des essais répétables

Le système permet d’analyser les causes profondes des interférences électromagnétiques au niveau de l’ingénierie plutôt que de se contenter d’une simple évaluation succès/échec.

Visualisation avancée des données

• Cartes thermiques des émissions en 2D
• Cartographie de l’intensité spectrale en 3D
• Visualisation des émissions spatiales sélectives en fonction de la fréquence
• Comparaison des deltas entre les itérations de conception
• Données de mesure exportables pour la documentation et les rapports

Cela permet d’identifier avec précision les zones d’implantation problématiques, les faiblesses du blindage et les discontinuités du courant de retour.

Champ d’application

• Développement de circuits imprimés numériques à grande vitesse
• SMPS et diagnostics EMI de l’électronique de puissance
• Développement de calculateurs automobiles
• Systèmes de contrôle industriel
• Atténuation des risques CEM avant la certification
• Validation de la conception avant les essais en chambre CISPR / FCC

Avantages pour les ingénieurs CEM

• Réduction de la dépendance à l’égard des pré-tests coûteux en chambre
• Permet l’optimisation itérative de la conception en interne
• Améliore la probabilité de conformité au premier passage
• Raccourcit les cycles de débogage CEM
• Fournit des données spatiales objectives et reproductibles sur l’IEM

Le Y.I.C. EMScannerR est une plate-forme de diagnostic de précision pour les ingénieurs qui ont besoin d’une analyse détaillée des émissions spatiales et d’une identification systématique des causes profondes des interférences électromagnétiques avant les tests de conformité formels.  

• Gamme de fréquences : 150 kHz à 8 GHz
• Zone de numérisation : L 31,6 cm x L 21,8 cm (L 12,44 x L 8,58)
• Haute résolution : 0,06 mm
• Abonnement d’un an à EMViewer comprenant les mises à jour, l’assistance et la garantie du matériel .

Pourquoi choisir l’EMS08R ?

L’EMS08R est conçu pour offrir une fiabilité et une précision inégalées dans les environnements les plus exigeants. Conçu pour les ingénieurs qui privilégient la performance, cet appareil garantit des résultats stables pour la R&D, l’assurance qualité et la maintenance industrielle. Contactez-nous dès aujourd’hui pour une assistance technique personnalisée et des demandes de renseignements en vrac.